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詳細給力介紹高低溫試驗箱的安全知識
發(fā)布時間：2013-10-09
高低溫試驗箱的安全信息：一、危險和人身安全信息：1、高溫燙傷高低溫試驗箱在做高溫試驗時箱內(nèi)溫度很高。試驗過程中或試驗剛結(jié)束時，如需打開箱門要特別小心，以免燙傷。冷凍機工作時，排氣銅管溫度很高運轉(zhuǎn)過程中請勿觸摸，以免燙傷。2、低溫凍傷高低溫試驗箱在做低溫試驗時箱內(nèi)溫度很低。試驗過程中或試驗剛結(jié)束時，如需打開箱門要特別小心，以免凍傷。3、觸電雖然設(shè)備具有健全的防觸電措施，但是仍然需要注意，尤其是電器控制系統(tǒng)，工作情況下，切勿觸摸電器部分。二、安裝安全信息1、電源高低溫試驗箱電源使用三相五線制，設(shè)備電
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氙燈耐候老化試驗箱對材料的試驗方案
發(fā)布時間：2013-10-07
氙燈耐候老化試驗箱對材料的試驗方案：1、黑標準溫度或黑板溫度：選擇以下兩種黑標準溫度用作試驗時，參考：65℃±3℃或100℃±3℃注：較高是為特殊試驗而設(shè)，它有可能便試樣更加容易受熱降解而影響試驗結(jié)果。以上溫度并不一定是選的試驗溫度，當有開方面協(xié)商一致時，也可以選擇其它溫度，但應在試驗報告中說明，如果使用噴水，在無水周期內(nèi)應保持溫度恒定。如果溫度計不能達到規(guī)定溫度，應在試驗報告中說明在無水期間所達到的高溫度。裝置即使以交替方式工作，黑標準溫度計也就以連續(xù)方式進行測量。如果使用黑板溫度計，應在試驗
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高低溫交變濕熱試驗機6項操作注意事項
發(fā)布時間：2013-09-28
高低溫交變濕熱試驗機.cn用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具。1、請注意冷熱沖擊試驗機必須安全確實接地，以免產(chǎn)生靜電感應。2、在操作當中，除非有必要，請不要打開箱門，否則可能導致下列不良的后果。3、如果箱內(nèi)放置發(fā)
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講解冷熱沖擊試驗機有哪些功能及技術(shù)優(yōu)勢
發(fā)布時間：2013-09-22
講解冷熱沖擊試驗機有哪些功能及技術(shù)優(yōu)勢三廂式冷熱沖擊試驗機嚴格的對電子元器件的可靠性測試：近年來，的所有生產(chǎn)行業(yè)，特別是光伏組件超過美國，成為繼日本、德國之后三大太陽能電池生產(chǎn)國。不過，今年隨著硅材料價格的不斷上漲，導致了單晶、多晶常規(guī)太陽能電池片利潤空間的不斷縮小。為了提高電池片的競爭力，提高電池片的整體光纖效率非常重要。這其中，加強減反膜的工藝質(zhì)量控制起到了很大的作用。為了保證產(chǎn)品的要求，如在氣候變化和一些電子、電器、連接器、光伏組件、電池等短缺的背景下，越來越受到投資者的追捧。東莞艾思荔儀
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可程式恒溫恒濕機偏差值問題怎么說
發(fā)布時間：2013-09-17
可程式恒溫恒濕機偏差值問題怎么說可程式恒溫恒濕機溫度偏差值和波動值有什么區(qū)別？溫度偏差是基準值的（合格）允許范圍，比如說溫度偏差值是100（±2）度，那么控制溫度時，箱體溫度在98-102度都是允許的。而波動值是指在設(shè)定好基準值后，因為發(fā)散熱量并不是均勻的，會在短時間內(nèi)出現(xiàn)一定的波動，該波動的范圍可能會大點，比如說是±5度;即溫度會在95--105度間波動。恒溫恒濕機溫度偏差可程式恒溫恒濕機能模擬各種溫濕度環(huán)境，適用于檢測電子、電器、食品、汽車、橡膠、塑料膠、金屬等產(chǎn)品，本恒溫恒濕機滿足GB/T
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不銹鋼恒溫恒濕試驗機測量產(chǎn)品正確的布放位置
發(fā)布時間：2013-09-11
不銹鋼恒溫恒濕試驗機.cn溫度、濕度試驗箱有恒定試驗箱、交變試驗箱兩種情況。普通的高低溫試驗箱一般指的是恒定高低溫試驗箱，其控制方式為：設(shè)定一個目標溫度，試驗箱具有自動恒溫到目標溫度點的能力。恒定溫濕度試驗箱的控制控制方式也類似，設(shè)定一個目標溫度、濕度點，試驗箱具有自動恒溫到目標溫度、濕度點的能力。高、低溫交變試驗箱具有設(shè)定一條或者多條高低溫變化、循環(huán)的程序，試驗箱有能力根據(jù)預置的曲線完成試驗過程，并且可以在大升溫、降溫速率能力的范圍內(nèi)，控制升溫、降溫的速率，即可以根據(jù)設(shè)定的曲線的斜率控制升溫、
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HAST高度加速壽命試驗機原理
發(fā)布時間：2013-09-03
HAST高度加速壽命試驗機原理●艾思荔HAST高度加速壽命試驗機隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（電工委員會）所標準化。●HAST高度加速壽命試驗機加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等
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